光電組件晶圓點測系統
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產品名稱: 光電組件晶圓點測系統
產品型號: 58635-L 光電元件晶圓LIV點測系統
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
依據ISO/IEC標準
*大可測試6吋晶圓
寬廣的測試范圍與高精準溫度控制
同時支持Pulse與CW模式操作
LIV量測 : Model 58635-L
近場量測 : Model 58635-N
遠場量測 : Model 58635-F
支持Multisite測試
光電組件晶圓點測系統
的詳細介紹
產品特色
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依據ISO/IEC標準
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*大可測試6吋晶圓
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寬廣的測試范圍與高精準溫度控制
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同時支持Pulse與CW模式操作
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LIV量測 : Model 58635-L
近場量測 : Model 58635-N
遠場量測 : Model 58635-F
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支持Multisite測試
隨著光電組件的技術越趨成熟，應用也越來越廣泛。其中，雷射二極管 (Laser Diode) 除通訊應用外，也朝消費性應用擴展。因應此全新市場，致茂電子藉由多年累積之光電量測技術，開發專為消費性應用之光電組件晶圓點測系統Model 58635系列機種。
58635系列*大可測試6吋晶圓，并搭配致茂電子之精密測試儀器設備，如電流源與溫度控制器，能滿足雷射二極管測試之嚴苛要求，雷射二極管相關光電特性參數隨溫度變化而有所變異，58635系列機種精準之溫度控制，能提供穩定、準確之量測數值。
Model 58635系列因應不同測試需求，共包含3機種：58635-L，58635-N，以及 58635-F。
LIV量測系統
致茂電流源提供準確穩定之電流源以及電壓量測，搭配積分球與光譜儀，提供準確之光功率與波長量測。藉由58635-L完整之軟件功能，所有LIV與波長之相關參數均能在此量測。
近場量測系統
58635-N參照ISO關于雷射近場量測之相關規范，對于雷射二極管之光束傳播比例 (Beam Propagation Ratio)或光束質量 (Beam Quality) 之相關參數，提供精準快速之量測。
遠場量測系統
58635-F針對雷射二極管之遠場光學特性進行測量，諸如雷射之發光角度。另參照IEC人眼**相關規范，58635-F能于遠場找尋光束*強之處，從而判斷是否符合人眼**相關規范。
應用范圍
